scanning electron microscopy, SEM
- сканирующая электронная (растровая) микроскопия. Метод анализа поверхностной структуры
микрообъекта путем анализа отраженного “электронного изображения” (как правило,
при специальном напылении и с применением метода замораживания-высушивания <freeze-etching>, что позволяет повышать электронную плотность объекта и
предотвращать деформации клеточных и др. структур).