transmission electron microscopy, TEM - просвечивающая электронная микроскопия. Метод микроскопического анализа с использованием просвечивающего электронного микроскопа, в качестве осветителя используется пучок электронов (длина волны 0,005 нм, ускорение в электрическом поле, образуемом при напряжении 50 000 в); принципиальная схема просвечивающего электронного микроскопа не отличается от таковой светового микроскопа, в частности, имеется возможность получения изображений в светлом и темном поле.